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產(chǎn)品分類 / PRODUCT
更新時(shí)間:2026-03-30
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服務(wù)網(wǎng)絡(luò):依托京都玉崎在深圳、蘇州、北京、成都等地的分支機(jī)構(gòu),提供本地化服務(wù)。
SF-3 分光干涉晶圓膜厚儀:非接觸、超高速(10ms),用于半導(dǎo)體晶圓背面研磨 / 減薄制程在線監(jiān)控。
OPTM 系列顯微分光膜厚儀:1nm 級(jí)精度,適用于極薄多層膜測(cè)量。
SM-100S/SM-100P 手持智能膜厚儀:便攜、非破壞,適合現(xiàn)場(chǎng)快速檢測(cè)。
ELSZ-neo 粒徑 /ζ 電位分析儀:動(dòng)態(tài)光散射技術(shù),測(cè)量納米顆粒尺寸、分布及表面電位。
nanoSAQLA 多樣品自動(dòng)粒徑分析儀:高通量,一次可測(cè) 50 個(gè)樣品。
MCPD 系列分光光譜儀:用于 LED、OLED、顯示面板的光學(xué)特性與量子效率測(cè)量。
相位差膜 / 偏光片檢測(cè)設(shè)備:服務(wù)于液晶顯示行業(yè)。
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